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IC半導體通電測試用什么溫度的高低溫試驗箱IC半導體溫度測試要求一般在低溫40°到高溫150°產品沒有特殊要求就可以了，產品有特殊要求除外，一般半導體還需要做高壓加速老化試驗箱，測試產品在高溫、高溫高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運輸和使用時的性能試驗，高溫高濕及壓力的氣候條件下，對產品的物理以及其它相關性能進行測試，測試后，通過高壓加速老化壽命試驗機檢定來判斷產品的性能是否能夠達到要求，以便供產品的設計、改進、檢定及出廠檢驗使用。

二、IC半導體通電測試用什么溫度的高低溫試驗箱簡介：
1、外膽均采用優(yōu)質(t=1mm)A3鋼板數控機床加工成型，外殼表面進行噴塑處理，更顯光潔、美觀。
2、內膽采用進口高級不銹鋼(SUS304)鏡面板。
3、保溫材質:高密度玻璃纖維棉.保溫厚度為100mm
4、溫濕度循環(huán)系統(tǒng):采用特制空調型低噪音長軸風扇電機，耐高低溫之不銹鋼多翼式葉輪,以達強度對流   垂直擴散循環(huán)。
5、門與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測試區(qū)的密閉

供應工業(yè)高低溫測試箱|溫濕度交變試驗箱

不銹鋼高低溫試驗箱（-40~+150℃）高低溫交變試驗箱滿足試驗標準：
☆GB10586-89濕熱試驗箱技術條件
☆GB10586-89低溫試驗箱技術條件
☆GB/T10592-89 高低溫試驗箱技術條件
☆GB10592-89 高低溫試驗箱技術條件
☆GB11158 高溫試驗箱技術條件
☆GB2423.1-89電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法
☆GB2423.2-89電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：高溫試驗方法
☆GB/T2423.3-93電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca恒定濕熱試驗方法
☆GB/T2423.4-93 交變濕熱試驗方法
☆GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗方法
☆IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法
☆IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法
    可程式恒溫恒濕試驗箱
不銹鋼高低溫試驗箱（-40~+150℃）高低溫交變試驗箱控溫系統(tǒng)
☆溫度控制儀表采用進口觸摸屏，可編程微電腦PID控制SSR輸出運行，全進口超大液晶彩色觸摸屏幕畫面，熒幕操作簡單，程式編輯容易，可連接電腦操作；
☆精度：0.1℃(顯示范圍)；解析度：±0.1℃；
☆感溫傳感器：PT100鉑金電阻測溫體；
☆控制方式：熱平衡調溫調濕方式；
☆具有自動演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為精確穩(wěn)定；
☆控制器操作界面設中英文可供選擇，實時運轉曲線圖可由屏幕顯示；
☆具有100組程式、每組100段、每段可循環(huán)999步驟的容量，每段時間設定大值為99小時59分；
☆資料及試驗條件輸入后，控制器具有熒屏鎖定功能，避免人為觸摸而停機；
☆具有RS-232或RS-485遠程通訊界面，可在電腦上設計程式，監(jiān)視試驗過程并執(zhí)行自動開關機等功能。